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冷热冲击试验箱

冷热冲击试验箱

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所属栏目:产品展示
发布时间:2012-10-09
浏览次数:103191次
产品说明:
适合电子、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片IC、IT、等...
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产品描述

1、试验系统结构设计先进合理,GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

2该试验箱主要功能元器件均采用配置

3、整机制冷系统采用PID演算控制,不需加配发热管消耗额外功率,

4、设备具有良好的操作性、维护性、良好的温度稳定性及持久性、良好的安全性能、不污染环境及危害人身健康。

用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适合电子、车辆、金属、化学、建材、通讯组件、国防工业、航天工业、电子芯片ICIT、等物理性变化的测试之用




1.1. 标称内容积

(80)

1.2. 测试区内箱尺寸

W(500)mm × H(400)mm × D(400)mm 宽*高*深

1.3. 整机外型尺寸

W(1350)mm × H(1860)mm × D(1860)mm

1.4. 重     量

(400)KG

2. 性能

2.1. 测试环境条件

环境温度为+5~+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下

2.2. 测试方法

GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

2.3. 高低温区温度范围

1.高温区部分:60℃~200℃

2.低温区部分:-10℃~-70℃

3.测试区部分:150℃~-55℃

2.4. 温度测试范围

1.高温:60℃~150℃

2.低温:-10℃~-(65)℃

2.5. 高低温转换时间

≤10S

2.6. 高低温恢复时间

3~5min(非线性空载下)

2.7. 控制 精度

温度:±0.2℃

(指控制器设定值和控制器实测值之差)

2.8. 温度波动度

≤0.5℃(温度波动度为中心点实测最高温度和最低温度之差的一半)

2.9. 温度 误差

≤±1℃(工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度)

2.10. 温度均匀度

≤2.0℃(温度均匀度为每次测试中实测最高温度和最低温度之差的算术平均值)

2.11. 预热区升温速度

3/min(非线性)

2.12. 预冷区降温速度

≥2℃/min(非线性)

2.13. 工作噪音

A声级≤70dB(A)

(在环温25℃,回声少的隔音室内测得;采用A计权,测试8个点的平均值;各测试点水平离噪音源1米、高度离地面1)

2.14. 满足试验方法

GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007) 低温试验方法 Ab

GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高温试验方法Bb

GB2423.22-87温度变化试验方法

GJB150.5-86温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验

GJB367.2-87温度冲击试验

(每立方米负载不大于35kg/m3钢的热容量,湿热试验时无有源湿、热负载)




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